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机译:生成具有高缺陷覆盖率的紧凑型测试仪
Xrysovalantis Kavousianos; Krishnendu Chakrabarty;
机译:紧凑的测试仪,缺陷覆盖率高
机译:针对未建模缺陷的紧凑型卡入式测试集的生成
机译:在测试长度约束下状态可观的FSM增加故障覆盖率的故障相关测试生成方法
机译:生成紧凑的测试集,并设计用于生成开关活动低的测试。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:紧凑的测试仪,确保高缺陷覆盖率
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。
机译:基于混合扫描的延迟测试技术,用于紧凑且高故障覆盖率的测试仪
机译:用于评估在ic上设置的测试图案的小延迟缺陷覆盖率的方法和设备
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